Notice: Undefined index: linkPowrot in C:\wwwroot\wwwroot\publikacje\publikacje.php on line 1275
Strona główna > Publikacje
Publikacje
Pomoc (F2)
[8870] Artykuł:

EBIS-A facility for the studies of X-ray emission from solids bombarded by highly charged ions

Czasopismo: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms   Tom: 354 (2015), Strony: 125-128
ISSN:  0168-583X
Wydawca:  ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, 1000 AE AMSTERDAM, NETHERLANDS
Opublikowano: Lipiec 2015
 
  Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
Imię i nazwisko Wydział Katedra Procent
udziału		 Liczba
punktów
Dariusz BanaśUniwersytet Jana Kochanowskiego w Kielcach; Wydział Matematyczno-Przyrodniczy17.00  
Łukasz JabłońskiUniwersytet Jana Kochanowskiego w Kielcach; Wydział Matematyczno-Przyrodniczy17.00  
Paweł Jagodziński orcid logoWZiMKKatedra Matematyki i Fizyki*1725.00  
Aldona Kubala-KukuśUniwersytet Jana Kochanowskiego w Kielcach; Wydział Matematyczno-Przyrodniczy17.00  
Daniel SobotaUniwersytet Jana Kochanowskiego w Kielcach; Wydział Matematyczno-Przyrodniczy17.00  
Marek PajekUniwersytet Jana Kochanowskiego w Kielcach; Wydział Matematyczno-Przyrodniczy17.00  

Grupa MNiSW:  Publikacja w czasopismach wymienionych w wykazie ministra MNiSzW (część A)
Punkty MNiSW: 25
Klasyfikacja Web of Science: Article

Pełny tekstPełny tekst     DOI LogoDOI     Web of Science Logo Web of Science    
Keywords:

X-ray spectroscopy  Highly charged ions  Electron beam ion source EBIS  Ionsurface interactions 


Abstract:

We report here on the progress in the X-ray spectroscopy program at the EBIS-A facility installed recently at the Institute of Physics of Jan Kochanowski University in Kielce. In this facility the beams of low-energy highly charged ions (HCI) produced by the Dresden EBIS-A ion source, after extraction and charge-state separation in the double focusing magnet, are directed to the experimental UHV chamber equipped with a 5-axis universal sample manipulator. The X-rays emitted in interaction of the highly charged ions with solids can be measured by an energy dispersive X-ray silicon drift detector (SDD) and/or a wavelength-dispersive X-ray spectrometer (WDS) mounted at the experimental chamber. The surface nanostructures formed by an impact of HCI will be studied by the grazing emission X-ray fluorescence (GEXRF) technique and using a multiprobe surface analysis system based on the X-ray photoelectron spectrometer (XPS) coupled to the UHV chamber of the EBIS-A facility. In this paper a brief description of the facility, X-ray instrumentation and the surface analysis system is given and the first results are presented.


POWRÓT
Strona główna > Publikacje