[88360] Artykuł:
Identification of the minimum chip thickness based on the two-dimensional wavelet analysis
Czasopismo: Journal of Physics: Conference Series Tom: 1183, Strony: 012008ISSN: 1742-6596
Opublikowano: 2019
Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
| Imię i nazwisko | Wydział | Katedra | Do oświadczenianr 3 | Grupaprzynależności | Dyscyplinanaukowa | Procent udziału |
Liczba punktów do oceny pracownika |
Liczba punktów wg kryteriów ewaluacji |
Włodzimierz Makieła  | WMiBM | Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii* | Tak | zaliczony do "N" | Inżynieria mechaniczna | 20 | 8.00 | 13.33 |
| Damian Gogolewski | WMiBM | Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii* | Nie | zaliczony do "N" | Inżynieria mechaniczna | 60 | 24.00 | 13.33 |
| Łukasz Nowakowski | WMiBM | Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii* | Nie | zaliczony do "N" | Inżynieria mechaniczna | 20 | 8.00 | 13.33 |
Grupa MNiSW: Publikacja w czasopismach wymienionych w wykazie ministra MNiSzW (część A)
Punkty MNiSW: 40
Pełny tekst 
DOI