Komputerowe systemy pomiarów i oceny struktury geometrycznej powierzchni
Czasopismo: VI Sympozjum Klubu Polskie Forum ISO 9000 "Metrologia w systemach jakości-3" Politechnika Świętokrzyska, Kielce 2000 Tom: 2 Opublikowano: 2000
Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
Imię i nazwisko
Wydział
Katedra
Procent udziału
Liczba punktów
Stanisław Adamczak
WMiBM
Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii*
50
.00
Dariusz Janecki
WMiBM
Centrum Laserowych Technologii Metali**
50
.00
Grupa MNiSW: Pozostałe publikacje (niepunktowane) Punkty MNiSW: 0