[64470] Patent:
Przyrząd do pomiarów zarysów okrągłości oraz falistości wewnętrznych powierzchni cylindrycznych
Opublikowano: 2017Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
| Imię i nazwisko | Wydział | Katedra | Do oświadczenianr 3 | Grupaprzynależności | Dyscyplinanaukowa | Procent udziału |
Liczba punktów do oceny pracownika |
Liczba punktów wg kryteriów ewaluacji |
Stanisław Adamczak  | WMiBM | Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii* | Tak | zaliczony do "N" | Inżynieria mechaniczna | 50 | 37.50 | 37.50 |
| Paweł Zmarzły | WMiBM | Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii* | Tak | zaliczony do "N" | Inżynieria mechaniczna | 50 | 37.50 | 37.50 |
Grupa MNiSW: Patent udzielony przez Urząd Patentowy Rzeczpospolitej Polskiej
Punkty MNiSW: 75