[63400] Patent:
Przyrząd do pomiaru odchyłek okrągłości oraz falistości powierzchni cylindrycznych
Opublikowano: 2017Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
| Imię i nazwisko | Wydział | Katedra | Do oświadczenianr 3 | Grupaprzynależności | Dyscyplinanaukowa | Procent udziału |
Liczba punktów do oceny pracownika |
Liczba punktów wg kryteriów ewaluacji |
Stanisław Adamczak  | WMiBM | Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii* | Nie | Inżynieria mechaniczna | 50 | 15.00 | .00 | |
| Paweł Zmarzły | WMiBM | Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii* | Nie | Inżynieria mechaniczna | 50 | 15.00 | .00 |
Grupa MNiSW: Prawo ochronne na wzór użytkowy
Punkty MNiSW: 30