[63400] Patent: Przyrząd do pomiaru odchyłek okrągłości oraz falistości powierzchni cylindrycznychOpublikowano: 2017
Autorzy / Redaktorzy / Twórcy Imię i nazwisko |
Wydział |
Katedra |
Do oświadczenia nr 3 |
Grupa przynależności |
Dyscyplina naukowa |
Procent udziału |
Liczba punktów do oceny pracownika |
Liczba punktów wg kryteriów ewaluacji |
Stanisław Adamczak | WMiBM | Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii* | Nie | | Inżynieria mechaniczna | 50 | 15.00 | .00 | Paweł Zmarzły | WMiBM | Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii* | Nie | | Inżynieria mechaniczna | 50 | 15.00 | .00 |
Grupa MNiSW: Prawo ochronne na wzór użytkowy Punkty MNiSW: 30
|