Jakość i technologia w modelowaniu warstwy wierzchniej
ISBN: 978-83-63978-51-8 Wydawca: Oficyna Wydawnicza Stowarzyszenia Menadżerów Jakości i Produkcji, Częstochowa 2016 Rok wydania: 2016 Miejsce wydania: Częstochowa Liczba stron: 144 Liczba arkuszy wydawniczych: 7.00
Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
Imię i nazwisko
Wydział
Katedra
Procent udziału
Liczba punktów
Robert Ulewicz
33
.00
Norbert Radek
WMiBM
Katedra Inżynierii Eksploatacji i Przemysłowych Systemów Laserowych*
33
25.00
Tomasz Lipiński
33
.00
Grupa MNiSW: Autorstwo monografii naukowej w języku polskim Punkty MNiSW: 25