Notice: Undefined index: linkPowrot in C:\wwwroot\wwwroot\publikacje\publikacje.php on line 1275
[43210] Artykuł: Identification and analysis of optimal method parameters of the V-block waviness measurementsCzasopismo: Bulletin of the Polish Academy of Sciences Technical Sciences Tom: 64, Zeszyt: 2, Strony: 325-332ISSN: 0239-7528 Wydawca: POLSKA AKAD NAUK, POLISH ACAD SCI, DIV IV TECHNICAL SCIENCES PAS, PL DEFILAD 1, WARSZAWA, 00-901, POLAND Opublikowano: Czerwiec 2016 Autorzy / Redaktorzy / Twórcy Grupa MNiSW: Publikacja w czasopismach wymienionych w wykazie ministra MNiSzW (część A) Punkty MNiSW: 20 Klasyfikacja Web of Science: Article Pełny tekst DOI Web of Science Słowa kluczowe: metoda odniesieniowa  pomiar falistości  współczynnik wykrywalności  Keywords: V-block method  waviness measurement  detectability coefficient.  |
Na Politechnice Świętokrzyskiej podjęto pracę nad zastosowaniem metody odniesieniowej do pomiaru falistości powierzchni cylindrycznych. W artykule przedstawiono badania związane z znalezieniem optymalnych kątowych parametrów metody odniesieniowej, które mogą być zastosowane w przyrządzie pomiarowym przeznaczonym do pomiarów odchyłki falistości elementów okrągłych. W celu uzyskania wysokiej dokładności pomiarowej metody odniesieniowej, wszystkie współczynniki wykrywalności, które są funkcją kątowych parametrów metody nie powinny być równe zero. W tym celu przeprowadzono obliczenia komputerowe, których celem było znalezienie takich parametrów metody odniesieniowej, które mogą być w łatwy sposób zastosowane w przyrządzie pomiarowych oraz które są dodatnie. Wyniki badań przedstawione w artykule posłużą do modyfikacji konstrukcji przyrządu pomiarowego. Według autorów artykułu, przyczyni się to do zwiększenia dokładności odniesieniowych pomiarów zarysów falistości.
At the Kielce University of Technology, a new method of waviness measurement of cylindrical surfaces has been developed. The
article deals with the research conducted to find the optimal V-block method parameters that can be used in a measuring device applied to waviness
measurement of cylindrical surfaces. In order to keep high measuring accuracy of V-block method, all detectability coefficients which
are function of V-block method parameters should not be negative. For this purpose computat