[304] Patent:
Przyrząd do pomiaru zarysów okrągłości
Opublikowano: 1996Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
| Imię i nazwisko | Wydział | Katedra | Procent udziału |
Liczba punktów |
Stanisław Adamczak  | WMiBM | Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii* | 100 | .00 |
Grupa MNiSW: Patent udzielony przez Urząd Patentowy Rzeczpospolitej Polskiej
Punkty MNiSW: 0