Notice: Undefined index: linkPowrot in C:\wwwroot\wwwroot\publikacje\publikacje.php on line 1275
Strona główna > Publikacje
Publikacje
Pomoc (F2)
[26775] Artykuł:

Simulations of a Johann/Johansson diffraction spectrometer for x-ray experiments at an electron beam ion source

Czasopismo: Physica Scripta   Tom: 2013, Zeszyt: T156, Strony: 1-3
ISSN:  0031-8949
Wydawca:  IOP PUBLISHING LTD, TEMPLE CIRCUS, TEMPLE WAY, BRISTOL BS1 6BE, ENGLAND
Opublikowano: 2013
 
  Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
Imię i nazwisko Wydział Katedra Procent
udziału		 Liczba
punktów
Łukasz Jabłoński25.00  
Paweł Jagodziński orcid logoWZiMKKatedra Matematyki i Fizyki*2525.00  
Dariusz Banaś25.00  
Marek Pajek25.00  

Grupa MNiSW:  Publikacja w czasopismach wymienionych w wykazie ministra MNiSzW (część A)
Punkty MNiSW: 25
Klasyfikacja Web of Science: Article; Proceedings Paper

DOI LogoDOI     Web of Science Logo Web of Science    

Abstract:

The ray tracing simulations of x-ray spectra for a compact six-crystal Johann/Johansson diffraction spectrometer covering a wide photon energy range (70 eV–15 keV), i.e. from the extended ultraviolet to the hard x-ray region, are discussed in the context of x-ray experiments at an electron beam ion source facility. In particular, the x-ray line profiles and energy resolution for different diffraction crystals and multilayers were studied, and the effects of extension of x-ray source size and misalignment were investigated. The simulations were also performed for x-ray emission from solid targets bombarded by electrons, which will be used for calibration of the x-ray spectrometer.


POWRÓT
Strona główna > Publikacje