[26534] Patent:
Przyrząd do pomiarów zarysów walcowości
Opublikowano: 2008Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
| Imię i nazwisko | Wydział | Katedra | Procent udziału |
Liczba punktów |
Stanisław Adamczak  | WMiBM | Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii* | 25 | 12.50 |
| Dariusz Janecki | WMiBM | Centrum Laserowych Technologii Metali** | 25 | 12.50 |
| M. Galand | 25 | .00 | ||
| H. Kolczyński | 25 | .00 | ||
Grupa MNiSW: Patent udzielony przez Urząd Patentowy Rzeczpospolitej Polskiej
Punkty MNiSW: 25