[26484] Patent: Przyrząd do pomiarów zarysów okrągłościOpublikowano: 2008Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
Grupa MNiSW: Patent udzielony przez Urząd Patentowy Rzeczpospolitej Polskiej na wynalazek, który został zastosowany Punkty MNiSW: 50 | ||||||||||||||||||||
Przedmiotem wynalazku jest przyrząd do pomiarów zarysów okrągłości części maszyn z zastosowaniem odniesieniowych lub bezodniesieniowej metody pomiarów.
Dotychczas znanych jest i stosowanych w praktyce pomiarowej kilka typów przyrządów do pomiarów zarysów okrągłości z obrotowym stołem lub obrotowym wrzecionem działających w oparciu o bezodniesieniowe metody pomiarów.
Przyrządy te ze względu na skomplikowane konstrukcje i szczególne wymagania odnośnie ich otoczenia i posadowienia są eksploatowane w izbach pomiarów przedsiębiorstw przemysłowych lub laboratoriach naukowo-badawczych. Nie można ich wykorzystywać bezpośrednio na stanowiskach produkcyjnych. Na tych stanowiskach stosowane są proste przyrządy pomiarowe działające w oparciu o metody odniesieniowe, głównie 2 i 3 punktowe. Pomiaru na tych przyrządach dokonuje się ręcznie, co nie zapewnia wymaganej dokładności pomiaru.
