Notice: Undefined index: linkPowrot in C:\wwwroot\wwwroot\publikacje\publikacje.php on line 1275
Strona główna > Publikacje
Publikacje
Pomoc (F2)
[22795] Artykuł:

A von Hamos X-ray spectrometer based on a segmented-type diffraction crystal for single-shot X-ray emission spectroscopy and time-resolved resonant inelastic X-ray scattering studies

Czasopismo: Review of Scientific Instruments   Tom: 83, Zeszyt: 10, Strony: 1-7
ISSN:  0034-6748
Opublikowano: 2012
 
  Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
Imię i nazwisko Wydział Katedra Procent
udziału		 Liczba
punktów
Jakub Szlachetko8.00  
Maarten Nachtegaal8.00  
Erich de Boni8.00  
Markus Willimann8.00  
Olga Safonova8.00  
Jacinto Sa8.00  
Monika Szlachetko8.00  
Jean-Claude Dousse8.00  
Joanna Hoszowska8.00  
Yves Kayser8.00  
Paweł Jagodziński orcid logoWZiMKKatedra Matematyki i Fizyki*830.00  
A. Bergamaschi8.00  

Grupa MNiSW:  Publikacja w czasopismach wymienionych w wykazie ministra MNiSzW (część A)
Punkty MNiSW: 30
Klasyfikacja Web of Science: Article

Web of Science Logo Web of Science    

Abstract:

We report on the design and performance of a wavelength-dispersive type spectrometer based on the von Hamos geometry. The spectrometer is equipped with a segmented-type crystal for x-ray diffraction and provides an energy resolution in the order of 0.25 eV and 1 eV over an energy range of 8000 eV–9600 eV. The use of a segmented crystal results in a simple and straightforward crystal preparation that allows to preserve the spectrometer resolution and spectrometer efficiency. Application of the spectrometer for time-resolved resonant inelastic x-ray scattering and single-shot x-ray emission spectroscopy is demonstrated.


POWRÓT
Strona główna > Publikacje