Brak informacji o książce wieloautorskiej, której częścią jest ten rozdział !
[20364] Rozdział:
The wavelet analysis as a method approximating surface profiles
w książce: Modern Metrology in Quality Management SystemsWydawca: Science Report, Project PL-0007, CEEPUS - Modern Metrology in Quality Management Systems
Opublikowano: 2006
Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
| Imię i nazwisko | Wydział | Katedra | Procent udziału |
Liczba punktów |
Włodzimierz Makieła  | WMiBM | Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii* | 100 | .00 |
Grupa MNiSW: Autorstwo rozdziału w monografii naukowej w językach: angielskim, niemieckim, francuskim, hiszpańskim, rosyjskim lub włoskim
Punkty MNiSW: 0