Notice: Undefined index: linkPowrot in C:\wwwroot\wwwroot\publikacje\publikacje.php on line 1275
Strona główna > Publikacje
Publikacje
Pomoc (F2)
[17585] Artykuł:

Wavelength-dispersive spectrometer for X-ray microfluorescence analysis at the X-ray microscopy beamline ID21 (ESRF)

Czasopismo: Journal of Synchrotron Radiation   Tom: 17, Strony: 400-408
ISSN:  0909-0495
Wydawca:  WILEY-BLACKWELL, COMMERCE PLACE, 350 MAIN ST, MALDEN 02148, MA USA
Opublikowano: Maj 2010
 
  Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
Imię i nazwisko Wydział Katedra Procent
udziału		 Liczba
punktów
Jakub Szlachetko11.00  
Marine Cotte11.00  
John Morse11.00  
Murielle Salome11.00  
Paweł Jagodziński orcid logoWZiMKKatedra Fizyki *****1132.00  
Jean-Claude Dousse11.00  
Joanna Hoszowska11.00  
Yves Kayser11.00  
Jean Susini11.00  

Grupa MNiSW:  Publikacja w czasopismach wymienionych w wykazie ministra MNiSzW (część A)
Punkty MNiSW: 32
Klasyfikacja Web of Science: Article

DOI LogoDOI     Web of Science Logo Web of Science    
Keywords:

X-ray spectroscopy  wavelength-dispersive spectrometer  X-ray imaging 


Abstract:

The development of a wavelength-dispersive spectrometer for microfluorescence analysis at the X-ray Microscopy ID21 beamline of the European Synchrotron Radiation Facility (ESRF) is reported. The spectrometer is based on a polycapillary optic for X-ray fluorescence collection and is operated in a flat-crystal geometry. The design considerations as well as operation characteristics of the spectrometer are presented. The achieved performances, in particular the energy resolution, are compared with the results of Monte Carlo simulations. Further improvement in the energy resolution, down to ~eV range, by employing a double-crystal geometry is examined. Finally, examples of applications requiring both spatial and spectral resolutions are presented.


POWRÓT
Strona główna > Publikacje