[137410] Patent:
Wzorzec do identyfikacji materiałów w badaniach tomografii komputerowej
Opublikowano: 2025Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
| Imię i nazwisko | Wydział | Katedra | Do oświadczenianr 3 | Grupaprzynależności | Dyscyplinanaukowa | Procent udziału |
Liczba punktów do oceny pracownika |
Liczba punktów wg kryteriów ewaluacji |
Piotr Młynarczyk  | WMiBM | Katedra Metaloznawstwa i Technologii Materiałowych* | Tak | zaliczony do "N" | Inżynieria mechaniczna | 20 | 75.00 | 75.00 |
| Damian Bańkowski | WMiBM | Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii* | Nie | zaliczony do "N" | Inżynieria materiałowa | 20 | 37.50 | 37.50 |
| Wojciech Depczyński | WMiBM | Katedra Metaloznawstwa i Technologii Materiałowych* | Nie | zaliczony do "N" | Inżynieria materiałowa | 20 | 37.50 | 37.50 |
| Kazimierz Bolanowski | Nie | 0 | 20 | .00 | .00 | |||
| Albert Bilski | Nie | 0 | 20 | .00 | .00 | |||
Grupa MNiSW: Patent udzielony przez Urząd Patentowy Rzeczpospolitej Polskiej
Punkty MNiSW: 75