[128470] Książka:
Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu - Falistość – Mikro- i nanochropowatość
Wydawca: Wydawnictwo Naukowe PWNRok wydania: 2023
Miejsce wydania: Warszawa
Liczba stron: 436
Liczba arkuszy wydawniczych: 21.80
Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
| Imię i nazwisko | Wydział | Katedra | Do oświadczenianr 3 | Grupaprzynależności | Dyscyplinanaukowa | Procent udziału |
Liczba punktów do oceny pracownika |
Liczba punktów wg kryteriów ewaluacji |
Stanisław Adamczak  | WMiBM | Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii* | Tak | zaliczony do "N" | Inżynieria mechaniczna | 100 | 80.00 | 80.00 |
Grupa MNiSW: Autorstwo monografii z listy wydawnictw 2019
Punkty MNiSW: 80