[103610] Artykuł:
An assessment of applicability of the two-dimensional wavelet transform to assess the minimum chip thickness determination accuracy
Czasopismo: Metrology and Measurement Systems Tom: 27, Zeszyt: 4, Strony: 659-672ISSN: 0860-8229
Opublikowano: Grudzień 2020
Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
| Imię i nazwisko | Wydział | Katedra | Do oświadczenianr 3 | Grupaprzynależności | Dyscyplinanaukowa | Procent udziału |
Liczba punktów do oceny pracownika |
Liczba punktów wg kryteriów ewaluacji |
Damian Gogolewski  | WMiBM | Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii* | Nie | zaliczony do "N" | Inżynieria mechaniczna | 50 | 50.00 | 33.33 |
| Włodzimierz Makieła | WMiBM | Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii* | Tak | zaliczony do "N" | Inżynieria mechaniczna | 25 | 25.00 | 33.33 |
| Łukasz Nowakowski | WMiBM | Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii* | Nie | zaliczony do "N" | Inżynieria mechaniczna | 25 | 25.00 | 33.33 |
Grupa MNiSW: Publikacja w czasopismach wymienionych w wykazie ministra MNiSzW (część A)
Punkty MNiSW: 100
Pełny tekst 
DOI