Notice: Undefined index: linkPowrot in C:\wwwroot\wwwroot\publikacje\publikacje.php on line 1275

Publikacje

[15860] Artykuł:

Determine the metrology characteristics of an optical device Talysurf CCI Lite produced by Taylor Hobson

Czasopismo: Transcom 2013 10th European Conference of Young Researchers and Scientists Strony: 13-16
ISSN: 9788-0554
Opublikowano: Czerwiec 2013

Autorzy / Redaktorzy / Twórcy

Imię i nazwisko	Wydział	Katedra	Procent udziału	Liczba punktów
Stanisław Adamczak	WMiBM	Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii*	50	.00
Łukasz Gorycki	WMiBM	Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii*	50	.00

Grupa MNiSW: Pozostałe publikacje (niepunktowane)
Punkty MNiSW: 0

Pełny tekst

Keywords:

coherence correlation interferometer measurement roughness line profilometer

Abstract:

The main target of this paper is to determine the metrology characteristics of an optical device Talysurf CCI Lite produced by Taylor Hobson. The characteristics were determined by performing a series of measurements, in which they where using properly selected reference samples. The obtained results where analyze using the appropriate statistical models.

POWRÓT

Strona główna > Publikacje