[25760] Artykuł:
Comparitive analysis of surface roughness measurments obtained with the use of contact stylus profilometry and coherence scanning interferometry
Czasopismo: XXI IMEKO World Congress "Measurment in Research and Industry" Strony: 1557-1560Opublikowano: 2015
Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
| Imię i nazwisko | Wydział | Katedra | Procent udziału |
Liczba punktów |
Stanisław Adamczak  | WMiBM | Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii* | 20 | .00 |
| Jacek Świderski | WMiBM | Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii* | 20 | .00 |
| Krzysztof Stępień | WMiBM | Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii* | 20 | .00 |
| Tomasz Dobrowolski | WMiBM | Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii* | 20 | .00 |
| Ireneusz Chmielik | 20 | .00 | ||
Grupa MNiSW: Recenzowany referat w materiałach konferencyjnych w języku angielskim
Punkty MNiSW: 0