Przegląd dyfrakcyjnych metod rentgenowskich do charakteryzowania wybranych właściwości powłok
w książce:Inżynieria powierzchni: wybrane zagadnienia ISSN: 1897-2691 Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Świętokrzyskiej Opublikowano: 2011 Liczba stron: 11 Liczba arkuszy wydawniczych: 0.70
Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
Imię i nazwisko
Wydział
Katedra
Procent udziału
Liczba punktów
Stanisław J. Skrzypek
25
.00
Wojciech Żórawski
WMiBM
Centrum Laserowych Technologii Metali**
25
4.00
K. Chruściel
25
.00
M. Goły
25
.00
Grupa MNiSW: Rozdział w monografii w języku polskim Punkty MNiSW: 4