Notice: Undefined index: linkPowrot in C:\wwwroot\wwwroot\publikacje\publikacje.php on line 1275
Publikacje
Pomoc (F2)
[26534] Patent:

Przyrząd do pomiarów zarysów walcowości

Opublikowano: 2008
 
  Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
Imię i nazwisko Wydział Katedra Procent
udziału
Liczba
punktów
Stanisław Adamczak orcid logoWMiBMKatedra Technologii Mechanicznej i Metrologii*2512.50  
Dariusz Janecki orcid logoWMiBMCentrum Laserowych Technologii Metali**2512.50  
M. Galand25.00  
H. Kolczyński25.00  

Grupa MNiSW:  Patent udzielony przez Urząd Patentowy Rzeczpospolitej Polskiej
Punkty MNiSW: 25