Notice: Undefined index: linkPowrot in C:\wwwroot\wwwroot\publikacje\publikacje.php on line 1275
Publikacje
Pomoc (F2)
[26484] Patent:

Przyrząd do pomiarów zarysów okrągłości

Opublikowano: 2008
 
  Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
Imię i nazwisko Wydział Katedra Procent
udziału
Liczba
punktów
Stanisław Adamczak orcid logoWMiBMKatedra Technologii Mechanicznej i Metrologii*3350.00  
Marian Galant33.00  
Henryk Kolczyński33.00  

Grupa MNiSW:  Patent udzielony przez Urząd Patentowy Rzeczpospolitej Polskiej na wynalazek, który został zastosowany
Punkty MNiSW: 50




Streszczenie:

Przedmiotem wynalazku jest przyrząd do pomiarów zarysów okrągłości części maszyn z zastosowaniem odniesieniowych lub bezodniesieniowej metody pomiarów.
Dotychczas znanych jest i stosowanych w praktyce pomiarowej kilka typów przyrządów do pomiarów zarysów okrągłości z obrotowym stołem lub obrotowym wrzecionem działających w oparciu o bezodniesieniowe metody pomiarów.
Przyrządy te ze względu na skomplikowane konstrukcje i szczególne wymagania odnośnie ich otoczenia i posadowienia są eksploatowane w izbach pomiarów przedsiębiorstw przemysłowych lub laboratoriach naukowo-badawczych. Nie można ich wykorzystywać bezpośrednio na stanowiskach produkcyjnych. Na tych stanowiskach stosowane są proste przyrządy pomiarowe działające w oparciu o metody odniesieniowe, głównie 2 i 3 punktowe. Pomiaru na tych przyrządach dokonuje się ręcznie, co nie zapewnia wymaganej dokładności pomiaru.