Notice: Undefined index: linkPowrot in C:\wwwroot\wwwroot\publikacje\publikacje.php on line 1275
Publikacje
Pomoc (F2)
Brak informacji o książce wieloautorskiej, której częścią jest ten rozdział !

[20364] Rozdział:

The wavelet analysis as a method approximating surface profiles

w książce:   Modern Metrology in Quality Management Systems
Wydawca:  Science Report, Project PL-0007, CEEPUS - Modern Metrology in Quality Management Systems
Opublikowano: 2006
 
  Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
Imię i nazwisko Wydział Katedra Procent
udziału
Liczba
punktów
Włodzimierz Makieła orcid logoWMiBMKatedra Technologii Mechanicznej i Metrologii*100.00  

Grupa MNiSW:  Autorstwo rozdziału w monografii naukowej w językach: angielskim, niemieckim, francuskim, hiszpańskim, rosyjskim lub włoskim
Punkty MNiSW: 0