Notice: Undefined index: linkPowrot in C:\wwwroot\wwwroot\publikacje\publikacje.php on line 1275
Publikacje
Pomoc (F2)
[14664] Artykuł:

Statistical method for comparison of measuring instruments accuracy.

(Statystyczne metody porównywania dokładności przyrządów pomiarowych)
Czasopismo: Metrology and Measurement Systems   Tom: 11, Zeszyt: 3, Strony: 221-234
ISSN:  0860-8229
Opublikowano: 2004
 
  Autorzy / Redaktorzy / Twórcy
Imię i nazwisko Wydział Katedra Procent
udziału
Liczba
punktów
Stanisław Adamczak orcid logoWMiBMKatedra Technologii Mechanicznej i Metrologii*503.00  
Dariusz Michalski orcid logoWMiBMWydziałowe Laboratorium Komputerowe**503.00  

Grupa MNiSW:  Publikacja w recenzowanym czasopiśmie wymienionym w wykazie ministra MNiSzW (część B)
Punkty MNiSW: 6


Web of Science LogoYADDA/CEON    
Słowa kluczowe:

pomiary  dokładność  instrumenty pomiarowe  korelacja 


Keywords:

measurement  accuracy  measuring instrument  correlation 



Streszczenie:

Obecnie stosowana, nowoczesna aparatura umożliwia przekształcenie nierówności profilu (zarysu) na sygnał elektryczny lub optyczny. Wzmocniony sygnał może być przekształcony z postaci analogowej na cyfrową i następnie zarejestrowany w postaci wykresu we współrzędnych prostokątnych lub biegunowych. Przetworzony i zarejestrowany zarys jest podstawą oceny stanu struktury geometrycznej powierzchni za pomocą wartości liczbowych zadanych, zdefiniowanych parametrów. Jednak parametry te w wielu przypadkach mają charakter punktowy i nie umożliwiają jednoznacznej, obiektywnej oceny zmierzonego zarysu rzeczywistej powierzchni. Problem ten jest szczególnie istotny przy ocenie dokładności sprawdzanych przyrządów pomiarowych. W związku z tym autorzy proponują rozstrzygnąć ten problem poprzez zastosowanie trzech metod z wykorzystaniem obliczeń współczynników korelacji Pearsona i Spearmana, funkcji korelacji wzajemnej oraz eksperymentalnego błędu metody.




Abstract:

The modern apparatus permits converting profile irregularities to electrical or optical signals. The amplified signals can be transformed from the analog to digital form and recorded as diagrams in rectangular or polar coordinates. A converted and registered profile is used for the assessment of surface geometry by means of numerical values of the predetermined parameters. In many a case, however, the parameters are point-based, so the assessment of the measured profile of a real surface is not objective, and neither is it explicit. This is particularly important when determining the accuracy of measuring instruments. The authors suggest that the problem can be solved applying three methods of computation employing the Pearson and Spearmen correlation coefficients, the cross correlation function, and the experimental method error.